Ein neuartiges Mess- und Testverfahren mit LEDs kann die unterschiedlichen Eigenschaften der Schichten von Solarmodulen zerstörungsfrei messen. Unser Netzwerkpartner, die hallesche point electronic GmbH, ist an dem mit EFRE-Mitteln geförderten Forschungsvorhaben beteiligt.
Bethge-Stiftung vergibt Nachwuchspreis an junge Forscher
Im Rahmen der Jahresversammlung der Heinz-Bethge-Stiftung für angewandte Elektronenmikroskopie wurden zwei Preise an junge Forscher vergeben: